強誘電体テストシステム

強誘電体テストシステム (aixACT)

TFA1000強誘電体テストシステム
TFA2000強誘電体テストシステム

概要

ドイツのアグザクトシステムズ社は 、1995 年アーヘン工科大学内に政府の予算にて設立されました。強誘電性材料の研究テーマに必要なテストシステムの供給を目的とした会社です。

当初、強誘電体材料には薄膜評価からバルク評価まで様々なアプリケーションを未来に可能性を残し、その分野で絶対的な測定を可能にすること目的とし、独自の測定手法で業界の標準器として現在世界中で使用されております。

特に、微小サンプルの分野では 0.3umx0.3um までの トランジスターを介した セルのヒステリシスまで測定を可能にし、バルク分野では Piezo 等のアプリケーションで 30kV までの高電圧発生器と様々な変位計との連動を可能にしております。

現在強誘電体メモリーの分野では開発から生産へ急ピッチの展開が各社繰り広げられておりますが、同社はユーザーでの設計とプロセスの間でのスパイスパラメーターを共用できるシステムまでインテグレートできるようなシステムの構築を行い、メモリー分野で早急な立ち上げを広くサポートできる環境にあります。

また、同社のダブルビームレーザー変位計は 1pm の分解能で、強誘電体薄膜の絶対変位計測をも可能にしたシステムも構築できます。

弊社では、これらのアプリケーションにあわせて、測定変位計および、測定冶具、高電圧アンプ、データベースソフトウェアの様々な用途に合わせて一連のシステムを供給しております 。

サービス内容

強誘電体テストシステム販売、サポート

  • lTFアナライザー2000
    薄膜、圧電、高速、微小電極等の様々な5種類の強誘電体アプリケーションヘッド、アプリケーションにあわせてモジュラーデザイン採用
  • lTFアナライザー1000、EasyCheck
    薄膜測定、圧電測定のベーシックユニット
  • ダブルビームレーザー変位計
    圧電薄膜を0.2pmの精度で変位を測定できます
  • d33、k33測定システム
    ピエゾアクチュエーターのk33パラメーターを測定するシステム

薄膜成膜サービス

強誘電体テストシステム測定項目

  • ヒステリシス測定
  • ファティーグ測定
  • リテンション測定
  • スタティックヒステリシス測定
  • インプリント測定
  • IV測定
  • CV測定
  • PUND測定
  • Piezoエレクトリック測定
  • Pyroエレクトリック測定
  • インピーダンス測定

測定例

PZT 0.3μm x 0.3μm, 6V, 10Hz
Triangular excitation

k33テストシステム測定例

ダブルビーム変位計との組み合せ例

  • 分解能 0.2pm
  • 基材の反り等をキャンセルして高精度、高再現性で測定可能
  • d33、d31測定

コメントは受け付けていません。